檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
F20-XT經(jīng)濟(jì)型高級(jí)膜厚測(cè)試儀
- F20-XT經(jīng)濟(jì)型高級(jí)膜厚測(cè)試儀,膜厚儀,薄膜測(cè)厚儀(北京,上海,深圳,成都,西安均有辦事處提供服務(wù))
主要用于測(cè)試各種透明半透明的膜厚.
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
1 是在F20-NIR的基礎(chǔ)上專為測(cè)試厚膜而設(shè)計(jì)的,波長(zhǎng)范圍從1200nm到1450nm,在NIR波長(zhǎng)分辨率為 0.5nm;
2 薄膜厚度的測(cè)量范圍是:0.2~ 450um(低光學(xué)參數(shù)薄膜),0.1~160um(Si及其它半導(dǎo)體),精度都好于0.4%。
應(yīng)用領(lǐng)域 :
1 微機(jī)電系統(tǒng)MEMS;
2 絕緣體上硅SOI;
3 倒裝芯片F(xiàn)lip Chips;
4 厚聚合物 。
北京銳峰先科技術(shù)有限公司
馮先生
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