檢測認證人脈交流通訊錄
- F30透明/半透明膜膜厚測試儀,膜厚儀,薄膜測厚儀(北京,上海,深圳,成都,西安均有辦事處提供服務)
主要用于測試各種透明半透明的膜厚。
產(chǎn)品簡介:
*是監(jiān)測薄膜沉積的最有效工具,可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口,實時監(jiān)控長晶速度,實時測量膜厚、 n 、 k 值以及半導體和絕緣體涂層的均勻性??杉友b三個探頭,同時測量三個樣品,有三種不同波長選擇 ( 波長范圍從可見光 400nm 至近紅外1700nm);
*測量的薄膜厚度范圍從 15nm 到 250um;
*測量精度優(yōu)于1% 。
主要特點:
*測量精度高,優(yōu)于 1% ;
*測量速度快,幾秒鐘內(nèi)可完成測量;
*整套設備可放置在沉積室外;
*操作簡單,使用方便;
*價格便宜
應用領域:
*分子束外延MBE;
*金屬有機物化學氣相沉積MOCVD;
*材料研究;
*光電鍍膜應用: 硬化膜、抗反射膜、濾波片。
北京銳峰先科技術有限公司
馮先生
- 地址:
- 北京市海淀區(qū)廠西門路2號吉友大廈4015室
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